重磅新品发布国产高性能误码仪120Gbps。在信息技术发展日新月异的今天，市场一如既往聚焦客户关切，紧跟行业发展，及时高效满足客户需求，第①款重磅新品——业内领先的高性能误码分析仪！这款全新一代高速时域仪器高性能误码仪。从当前热门应用出发，带大家走进和了解误码仪广泛的应用前景和严苛的技术基础，欢迎广大用户给国产仪器更多的机会，多试用、多提宝贵建议，促进国产仪器更快进步。

       随着人工智能、数据中心、5G/6G、云存储和云计算、以及自动驾驶的飞速发展，高速串行信号的数据速率也越来越高，PCIE6.0数据速率高达64GT/s，USB4.0 V2的速率已经达到了80Gbps，以太网数据传输速率已经从100G、200G迅速攀升至400G、800G、未来的1.6T。这些产业的飞速发展对误码仪的速率和性能提出了极高的要求。为应对不同客户需求和应用场景，现场发布了三大系列产品：SL3000B、SL3000A-PRO、SL2000A-PRO。

       此次发布的高性能误码仪数据速率高，高可达120Gbps，支持注抖加噪创建压力信号，基本满足从芯片、模组，到整机、系统产品研发阶段，高速测试应用严苛要求，打破一直以来只能依赖国外误码仪完成高速芯片和接口的接收端抖动容限和噪声容限测试局面。让全球用户再添高精尖测量测试设备新选择！

一、重磅新品发布国产高性能误码仪120Gbps，具有如下几大核心特色：

（一）模块化

      多通道灵活配置：32发32收

      高性能误码分析仪采用模块化设计，可根据测试需求，灵活的配置通道数和功能。其中3000A-Pro系列误码仪单机较多可支持32发32收，单机支持通道数量已经走到了世界的前列，站在误码仪行业的高峰。

（二）高速率

          1-120Gbps：数据速率灵活可调

          高性能误码仪支持NRZ/PAM4随意切换，每个通道数据速率较低1Gbps，较高支持60GBaud，PAM4到可达120Gbps，并且速率灵活可调。

（三）压力眼

       注抖加噪：让信号拥有72般变化

       高性能误码分析仪是国内第①个支持注入抖动和加噪声创建压力信号的高性能误码仪，也是目前国内首款能够满足接收端抖动容限JTOL和噪声容限ITOL测试的误码仪，其中可支持的注入抖动类型有低频正弦抖动、高频周期抖动、BUJ串扰抖动、RJ随机抖动以及SSC扩频时钟等；支持的噪声类型有CMI和DMI和BBN宽带白噪声，有效地解决“卡脖子”的难题。

（四）UDP

      16Gbit超长用户自定义码型

       高性能误码仪支持伪随机码PRBS7/9/13/15/23/31，PRBS13Q，PRBS31Q，JP03B，SSPRQ等及较高可支持16Gbit用户自定义码型输入，可以满足各种标准和非标准测试要求。

（五）高压输出

      2.5V差分高压输出

      高性能误码分析仪PPG高可输出2.5V差分电压，可以应对需要高压输出的测试场景。

        高性能误码仪支持发送端FFE均衡功能，可设置Pre-Cursor/Post-Cursor/Main-Cursor，内置高7个Taps FFE，可提供灵活的与失真校准设置来进行通道补偿。同时ED误码检测器，内置了CDR时钟恢复功能，无需外部时钟输入就直接可以进行误码检测。误码检测范围支持：1Gbps-120Gbps，并且支持接收端自动均衡和FEC功能。    

二、典型应用

（一）高速Serdes芯片/接口测试

          高速芯片/接口接收端抖动噪声容限测试

       随着高速总线的数据越来越高，像PCIE4 16GT/s，PCIE5.0数据速率32GT/s，PCIE6.0的数据速率64GT/s，PCIE5.0采用NRZ，PCIE6.0采用PAM4编码；USB4.0 V2的速率已经达到了80Gbps，USB4.0 V2采用PAM3。

      误码仪是进行高速Serdes接收端测试必备仪器，要做接收端容限测试，需要利用误码仪的PPG生成各种压力信号来模拟真实场景。通过PPG来注入抖动加噪声来创建压力信号，模拟真实场景完成接收端端抖动容限和噪声容限测试。

（二）光通信测试

       光模块是把电信号变成光信号，把光信号变成电信号，因此也被称为通信界的魔法师。光模块里用到的芯片可分为光芯片和电芯片，其中激光器、探测器是属于光芯片；TIA跨阻放大器、LA限幅放大器、CDR时钟恢复芯片、驱动芯片，DSP，MUX/DEMUX等属于电芯片。

1、高速光通信激光器芯片晶圆级眼图测试

       光芯片的性能好坏，需要验证和测试。光芯片有激光器芯片和探测器芯片，下面是高速光通信激光器芯片晶圆级眼图测试案例，整个测试系统包括误码仪、探针台、被测晶圆和光示波器。其中误码仪的PPG作为电激励信号，通过探针台连接到片上晶圆，把输出的光信号连接到光示波器上进行眼图测试。

2、电芯片测试

       在电芯片测试中，为了验证TIA跨阻放大器、LA限幅放大器、CDR时钟恢复芯片、驱动芯片，DSP，MUX、DEMUX等属于电芯片的极限能力，需要利用误码分析仪注入SJ正弦抖动、RJ随机抖动来创建压力信号模拟真实环境的信号来评估芯片的极限特性。

3、光模块测试

       光模块中包含了光芯片和电芯片测试，在测试过程中利用误码分析仪的PPG输出高速的伪随机码型接到光模块的测试夹具上，经过光模块后的光信号利用光示波器测试光信号的抖动眼图、Margin、消光比、光功率、上升时间、下降时间等，同时利用误码分析仪的误码检测端进行误码率测试。

（三）高速互连测试

       高速系统中包括发射机、接收机以及高速传输互连链路，其中高速互连传输链路包含高速光互连和高速电互连，在高速信号传输链路中，互连链路上任何一个环节的问题，可能影响整个系统工作的效率以及稳定性，因此需要对高速互连中的连接器、线缆、背板等进行验证和测试。高速互连链路除了需要矢量网络分析仪VNA/TDR测试插损和阻抗，还需要用误码仪做串扰源测试以及误码率测试，以及利用示波器做抖动眼图测试，因此误码仪是高速互连评估测试中不可缺的仪器设备。

（四）相干光通信

          相干光系统验证

       相干光通信广泛应用于长距离光传输网、数据中心短距离光互连中以及激光通信中。其中卫星互联网构建星间链路，利用激光通信可以大幅提升星间链路数据传输速率。利用误码仪的PPG可以产生2/4路基带IQ 的BPSK、QPSK、16QAM电信号调制到相干光的发射机上，通过光传输，相干光接收机收到光信号，把光信号转成电信号，然后利用示波器采集数据进行处理分析得到星座图和EVM，来完成相干光系统测试验证。

       高性能误码分析仪具有模块化设计、灵活的通道配置、高速率、注抖加噪创建压力眼信号、超长用户自定义码型等业内领先的核心技术！高性能误码分析仪具有模块化设计、灵活的通道配置、高速率、注抖加噪创建压力眼信号、超长用户自定义码型等业内领先的核心技术，可用于高速Serdes芯片和高速接口、光芯片、光器件、光模块、光传输、高速互连等领域苛刻的测试。