进行高频测量时更改绕组匝数后，为什么铁芯损耗测量值会出现差异

2024-08-29 09:00:55

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进行高频测量时更改绕组匝数后，为什么铁芯损耗测量值会出现差异？

产生差异的原因之一可能是受到了LC并联谐振现象的影响。谐振频率根据绕组匝数而变化。如果检测电压、检测电流均在B-H分析仪的可测量范围即可执行铁芯损耗测量，但B-H分析仪的输入电容C与试样的电感L会形成LC并联谐振电路，所以在执行高频测量时需注意。使用时，请确保测量频率在谐振频率的1/10以下。谐振频率fc可通过以下公式进行计算。

L：试样的电感　C：B-H分析仪的输入电容（SY-8218 / SY-8219约为18.5pF） N1：1次绕组匝数　N2：2次绕组匝数　

此外，如果是高相位角(≧约87°)的试样，其谐振影响将会变大，测量高相位角的试样时，建议以谐振频率1/20以下的频率执行测量。
原因之二可能是受到了试样内部磁场(的强度)、或磁通密度B的不均衡影响。试样磁导率较低、形状非环形、或绕组不均衡时，试样内部的H、B的大小大多会根据试样的位置而异。更改绕组匝数后，H的平均励磁位置、或B的平均检测位置会发生变化，从而使铁芯损耗产生差异。

B-H分析仪